Gefran hat ein einphasiges Halbleiterrelais mit digitalem IO-Link-Protokoll vorgestellt. Die Serie GRP-H ist eine Weiterentwicklung der Serie GRS-H, welche zur GR-Plattform der Solid State Relais gehört. Das Relais bietet neben erweiterten Funktionen bei der Überwachung elektrischer Widerstände auch diagnostische Tools für die Früherkennung von Teillastunterbrechungen. Das IO-Link-Protokoll ermöglicht die Integration der Halbleiterrelais in Automatisierungsumgebungen sowie einen umfangreichen Datenaustausch von Betriebsstunden oder Strom- bzw. Temperaturspitzen. Damit eignen sich die Relais für die vorausschauende Wartung und eine fehlersichere Verdrahtung. Die Lastüberwachung der Relais erfasst zudem Teillastunterbrechungen mit einer Auflösung von bis zu einem Achtel der Gesamtlast. Diese Empfindlichkeit ist insbesondere in der Verpackungstechnik von Relevanz. Weiter sind die Halbleiterrelais für lineare und nicht-lineare Ohmsche Widerstände konzipiert.
Digitalmikroskop hilft bei Leistungssteigerung von CNC-Werkzeugschleifmaschinen
NUM hat sein Numroto Technology Center in Teufen, Schweiz, mit einem hochauflösenden Digitalmikroskop von Keyence ausgestattet, das eine umfassende Analyse der Oberflächenqualität von geschliffenen Präzisionswerkzeugen ermöglicht.